半导体FT测试程序如何写

‘壹’ 如何编写测试程序

不用 如果你创建所有类文件都在同一个包里，那么就直接写个test类，在test类中 直接使用你之前所创建类的就可以了，

前提是你的test类和其他的类在同一级目录中，不需要继承，也不需要接口的。

直接调用

比如你写了个类文件A.java

又写了个测试类test.java,且A和test在同一级目录

那么在test.java中直接使用就行

比如

test.java{
public static void main(args[]){
A a;
}
}

‘贰’ 软件测试报告如何写

测试分析报告：

1、编写目的：说明这份测试分析报告的具体编写目的，指出预期的阅读范围。

2、测试概要：用表格的形式列出每一项测试的标识符及其测试内容，并指明实际进行的测试工作内容与测试计划中预先设计的内容之间的差别，说明作出这种改变的原因。

3、测试结果及发现：把本项测试中实际得到的动态输出（包括内部生成数据输出）结果同对于动态输出的要求进行比较，陈述其中的各项发现。

4、对软件功能的结论：简述该项功能，说明为满足此项功能而设计的软件能力以及经过一项或多项测试已证实的能力。说明测试数据值的范围（包括动态数据和静态数据），列出就这项功能而言，测试期间在该软件中查出的缺陷、局限性。

测试原则

对计算机软件进行测试前，首先需遵循软件测试原则，即不完全原则的遵守。不完全原则即为若测试不完全、测试过程中涉及免疫性原则的部分较多，可对软件测试起到一定帮助。

因软件测试因此类因素具有一定程度的免疫性，测试人员能够完成的测试内容与其免疫性成正比，若想使软件测试更为流畅、测试效果更为有效，首先需遵循此类原则，将此类原则贯穿整个开发流程，不断进行测试，而并非一次性全程测试。

以上内容参考：网络-软件测试

‘叁’ 半导体FT测试流程简介