⑴ xrd可以得到纳米材料的哪些结构信息
太多了，简单说几个：
晶体结构。依据布拉格方程不同的晶体都会产生特定的衍射峰，由此可以知道材料的晶体结构。
依据峰位移动，峰位宽化与否，判断诸如掺杂，晶粒生长等问题。
和晶体结构相关的晶胞参数。a,b,c,夹角，晶粒尺寸，晶胞体积，残余应力。
利用XRD还可以进行点阵参数确定。
如果是多晶样品，还可以依据峰强测得样品的相对含量。
更进一步的话，如果对XRD进行结构精修，还可以获得电子云密度，键长，键角等信息。
以上
⑵ 根据X射线衍射实验数据可以得到哪些信息
一、谱图横坐标2θ,从而知道掠射角θ(入射角的余角,又称为布拉格角).然后就可以求得谱线对应的晶面-晶面间距d值；最后可获得晶体的长宽高几何尺寸.
可参见我的以前回答：
二、谱图的谱线强度（纵标）；如果是照片、感光底片的话,就是光斑的亮度.
影响衍射强度各因子的物理意义及其计算方法
衍射线的强度能反映晶体内微观结构信息,因此进行衍射强度分析的过程也是完成晶体结构判断的过程；衍射强度分析是衍射分析基本理论的重要组成部分.影响实际单相粉晶的某条衍射线强度的因素很多,其中可分为6大部分的影响因素：
第1部分是物理常数,不属于影响因素；
第2部分为实验参数,列为第1个影响因素的原子散射因子f与实验参数有关.
第3部分是与样品晶体结构有关的参数.其中多重性因子p和结构因子F(hkl)是第2个和第3个影响因素；
第4部分是与布拉格角（掠射角）θ有关的角因子,它由两个因子合并而成：偏振因子（或称为Thomson因子）和洛伦兹（Lorentz）因子 ；
第5部分是导致X射线强度衰减的吸收因子,它也是一个影响因素；
第6部分是为修正原子热振动影响的温度因子.
其中结构因子F(hkl)最感兴趣：
F(hkl)由晶格结构决定,即由晶胞中原子的种类和原子位置分布决定.通常Fj表原子的原子散射因子,用Xj、Yj、Zj表原子j的位置.Fj的物理意义是j原子的相对于一个电子的散射波振幅之比,可按公式计算.结构因子是决定衍射强度的主要因素,它的计算方法一般为先假设晶胞中原子的可能坐标（xyz）然后进行结构振幅或衍射强度的计算,将计算结果与实测数据进行比较,若两者吻合并且还能得到其它实验如NMR、IR的旁证,则说明所假设结构正确；否则需修正假设,再计算,再比较,直至逼近吻合.这就是通过结构因子推求晶体结构的主要途径.F(hkl)有各种表达式.这里面的理论知识很多,也是X射线衍射分析的高级研究内容,这里不能赘述.
三、所有横标纵标信息、强度信息、谱线分布谱线组合全体搭配信息,通俗地讲就是衍射花样,是XRD的重要信息,从中可能也可以导向对谱图进行解析、归属谱线到晶面、推导出晶体的晶系晶型等等!
⑶ 从XRD测试结果可以获得那些信息
我的许多回答都和你的问题有关，可以去看看：
http://..com/question/211197705.html，
如何分析X射线粉末衍射图谱和数据？：http://..com/question/126659189.html?fr=qrl&cid=984&index=3&fr2=query；
运用XRD分析结果进行晶相鉴定：http://..com/question/123478742；
x射线衍射的原理及其可以解决的问题（应用）：http://..com/question/122264851；
一、谱图横坐标2θ，从而知道掠射角θ(入射角的余角，又称为布拉格角)。然后就可以求得谱线对应的晶面-晶面间距d值；最后可获得晶体的长宽高几何尺寸。
http://..com/question/156881338.html
http://..com/question/122433124.html
http://..com/question/126659189.html
二、谱图的谱线强度（纵标）；如果是照片、感光底片的话，就是光斑的亮度。
影响衍射强度各因子的物理意义及其计算方法
衍射线的强度能反映晶体内微观结构信息，因此进行衍射强度分析的过程也是完成晶体结构判断的过程；衍射强度分析是衍射分析基本理论的重要组成部分。
三、所有横标、纵标信息、强度信息、谱线分布、谱线组合、全体搭配信息，通俗地讲就是衍射花样，是XRD的重要信息，从中可能、也可以导向对谱图进行解析、归属谱线到晶面、推导出晶体的晶系晶型等等！