A. 从XRD测试结果可以获得那些信息
我的许多回答都和你的问题有关，可以去看看：
http://..com/question/211197705.html，
如何分析X射线粉末衍射图谱和数据？：http://..com/question/126659189.html?fr=qrl&cid=984&index=3&fr2=query；
运用XRD分析结果进行晶相鉴定：http://..com/question/123478742；
x射线衍射的原理及其可以解决的问题（应用）：http://..com/question/122264851；
一、谱图横坐标2θ，从而知道掠射角θ(入射角的余角，又称为布拉格角)。然后就可以求得谱线对应的晶面-晶面间距d值；最后可获得晶体的长宽高几何尺寸。
http://..com/question/156881338.html
http://..com/question/122433124.html
http://..com/question/126659189.html
二、谱图的谱线强度（纵标）；如果是照片、感光底片的话，就是光斑的亮度。
影响衍射强度各因子的物理意义及其计算方法
衍射线的强度能反映晶体内微观结构信息，因此进行衍射强度分析的过程也是完成晶体结构判断的过程；衍射强度分析是衍射分析基本理论的重要组成部分。
三、所有横标、纵标信息、强度信息、谱线分布、谱线组合、全体搭配信息，通俗地讲就是衍射花样，是XRD的重要信息，从中可能、也可以导向对谱图进行解析、归属谱线到晶面、推导出晶体的晶系晶型等等！
B. xrd可以得到纳米材料的哪些结构信息
太多了，简单说几个：
晶体结构。依据布拉格方程不同的晶体都会产生特定的衍射峰，由此可以知道材料的晶体结构。
依据峰位移动，峰位宽化与否，判断诸如掺杂，晶粒生长等问题。
和晶体结构相关的晶胞参数。a,b,c,夹角，晶粒尺寸，晶胞体积，残余应力。
利用XRD还可以进行点阵参数确定。
如果是多晶样品，还可以依据峰强测得样品的相对含量。
更进一步的话，如果对XRD进行结构精修，还可以获得电子云密度，键长，键角等信息。
以上