计算过程能力需要多少组数据

1. minitab软件多少数据能算过程能力

1. 对于输出特性为离散型的数据过程，也需要进行过程能力的计算，数据分布不同（常见的分布为Poisson分布和二项分布），过程能力的计算方法也不同，常见的指标有DPMO，DPU等。在Minitab软件中，可以通过以下方式计算得到这些数值：

2. 
   统计-----质量工具----能力分析----二项

3. 
   在Minitab的输出图形中，可以获得很多信息，首先左侧P控制图和累积不良品的控制图可以判断流程是否处于稳定状态，其次，右侧的二项分布概率图和不良品的直方图表明过程输出数据是否服从二项分布。再次，途中下方的摘要统计显示过程的绩效指标PPM的大小和缺陷率数值，然后计算出西格玛水平及执行区间。

2. Cpk——过程能力指数是怎么计算的1.33和1.67等等从何而来.

计算公式：Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)。1.33和1.67等是根据计算结果而来的。

min即取小的那个值，TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差；μ为过程统计量的分布均值。

指数意义：

1、Cpk范围1.67-2过大，可适当放宽检验。

2、Cpk范围1.33-1.67充分，继续保持。

3、Cpk范围1-1.33正常，但接近1危险。

4、Cpk范围小于1，需改进，严重时停产需整顿。

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计算Cpk的注意事项：

1、分析时，应注意对数据的正确分层，否则可能会发生误判。

2、对公差界限进行分析时，需要观察是否有异常点或者离群点出现。

3、当数据较多时，可能会重复数据出现，对重复数据要进行区分，并加以分析。

4、一般情况下，至少应取25组以上的数据进行分析。

5、通常情况下，横坐标用来表示原因或者自变量，纵坐标用来表示效果或者因变量。

参考资料来源：网络=cpk

3. 过程能力分析需要多少个数据

过程能力也称工序能力，是指过程加工方面满足加工质量的能力，它是衡量过程加工内在一致性的，最稳态下的最小波动。当过程处于稳态时，产品的质量特性值有99.73%散布在区间μ-3σ，μ+3σ。

其中μ为产品特性值的总体均值，σ为产品特性值总体标准差，也即几乎全部产品特性值都落在6σ的范围内﹔因此，通常用6σ表示过程能力，它的值越小越好。

工序过程能力指该工序过程在5M1E正常的状态下，能稳定地生产合格品的实际加工能力。过程能力取决于机器设备、材料、工艺、工艺装备的精度、工人的工作质量以及其他技术条件。过程能力指数用Cp、Cpk表示。

4. 过程能力指数的应用

1 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
2. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
3. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
4. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2；
5. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)
6. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值
7. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值
8. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）
A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低
A+ 级 2.0 > Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之
A 级 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A+级
B 级 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级
C 级 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力
D 级 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。

5. 根据给出的数据，计算cp，cpk和pp，ppk，并判断过程能力是否可接收

CPK：Complex Process Capability index 缩写现代企业用于表示制能力指标
CPK值越表示品质越佳
CPK=min（（X-LSL/3s）（USL-X/3s））
Cpk——程能力指数
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk应用讲议
1. Cpk文定义：制程能力指数某工程或制程水准量化反应工程评估类指标
2. 同Cpk息息相关两参数：Ca , Cp.
Ca: 制程准确度 Cp: 制程精密度
3. Cpk, Ca, Cp三者关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)CpkCa及Cp两者反应Ca反应位置关系(集趋势)Cp反应散布关系(离散趋势)
4. 选择制程站别用Cpk作管控应本做考量首要素其品质特性制程影响度
5. 计算取数据至少应20~25组数据具定代表性
6. 计算Cpk除收集取数据外应知晓该品质特性规格限(USLLSL)才顺利计算其值
7. 首先用ExcelSTDEV函数自计算所取数据标准差(σ)再计算规格公差(T)及规格值(u). 规格公差＝规格限－规格限；规格值＝（规格限+规格限）/2；
8. 依据公式： 计算制程准确度：Ca值
9. 依据公式：Cp = 计算制程精密度：Cp值
10. 依据公式：Cpk=Cp 计算制程能力指数：Cpk值
11. Cpk评级标准：（据标准计算制程能力指数做相应策）
A++级 Cpk≥2.0 特优 考虑本降低
A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应保持
A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良状态稳定应尽力提升A＋级
B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 般 状态般制程素稍变异即产良危险应利用各种资源及其提升 A级
C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程良较必须提升其能力
D 级 0.67 ＞ Cpk 接受 其能力太差应考虑重新整改设计制程
1、首先我先说明Pp、Cp两者定义及公式
Cp（Capability Indies of Process）：稳定程能力指数定义容差宽度除程能力考虑程偏移般表达式：
Pp（Performance Indies of Process）：程性能指数定义考虑程偏移容差范围除程性能般表达式：
（该指数仅用与Cp及Cpk比或/Cp、Cpk起度量确认段间内改进优先序）
CPU：稳定程限能力指数定义容差范围限除实际程布宽度限般表达式：
CPL：稳定程限能力指数定义容差范围限除实际程布宽度限般表达式：
2、现我阐述Cpk、Ppk含义
Cpk：考虑程能力（修）指数定义CPU与CPL值等于程均值与近规范界限间差除程总布宽度半即：
Ppk：考虑程性能（修）指数定义： 或 值即：
其实公式K定义布μ与公差M偏离度μ与M偏离ε=| M-μ|
3、公式标准差同含义

①Cp、Cpk计算稳定程能力稳定程程变差仅由普通原引起公式标准差通控制图本平均极差估计

Cp、Cpk般与控制图起使用首先利用控制图判断程否受控程受控要采取措施改善程使程处于受控状态确保程受控再计算Cp、Cpk
②由于普通特殊两种原所造变差用本标准差S估计程性能指数计算使用该标准差
4、几指数比较与说明

① 偏离Cp表示程加工均匀性（稳定性）即质量能力Cp越质量特性布越苗条质量能力越强；偏离Cpk表示程μ与公差M偏离情况Cpk越二者偏离越即程公差越瞄准使程质量能力与管理能力二者综合结Cp与Cpk着重点同需要同加考虑
② PpPpk关系参照面
③ 关于Cpk与Ppk关系引用QS9000PPAP手册句：能历史数据或足够初始数据绘制控制图（至少100体本）程稳定计算Cpk于输满足规格要求且呈预测图形期稳定程应该使用Ppk

所谓PPK进入批量产前批产能力评价般要求≥1.67；CPK进入批量产保证批量产产品品质状况至于降且保证与批产具同控制能力所进行产能力评价般要求≥1.33；般说CPK需要借助PPK控制界限作控制… …
PPK短期程能力即初始程能力般初期确认程否稳定于1.67即转入期程能力管理CPK至于CMK计算与PPK前提模具与设备作整体即必须使用合格模具排除设备外素影响..
知道能能明白两都关系与区别呢

6. 统计工序能力指数最少的多少组数据

首先，在统计工序能力数据之前必须确定该工序处于稳态，也就是异常因素已经排除。这样统计的数据才能反映出该工序的真实能力，统计收集数据时应分时间段进行收集，每次收集一组数据（5个数据），正常收集25组数据后使用SPC或者Minitab进行计算工序能力。

7. 在抽样计算cpk的过程中,一般要抽取几组数据,每组含数据含多少样本

不是这样理解的,是需要80-100样品数据,在一定时间范围采集.

8. 计算CPK最少需要多少数据

一般情况下至少需要25组或以上的数据。

在制作CPK之前应先确定过程是否稳定，常用控制制图分析（最常用的是用Xbar-R图），而Xbar-R图一般是要100-125组数据，因而如果只有5组是不可行的。

就PPK而言过程稳定也是前提，在PPAP手册中也是建议用125组进行初始过程性能指数的计算。另就CPK与PPK只是长期能力指数与短期能力指数，在计算时都要求过程稳定，只是在标准差的计算上有所不同。

CPK密钥管理体制依据离散对数难题的数学原理构建公开密钥与私有密钥矩阵，采用杂凑函数与密码变换将实体的标识映射为矩阵的行坐标与列坐标序列，用以对矩阵元素进行选取与组合，生成数量庞大的由公开密钥与私有密钥组成的公钥、私钥对，从而实现基于标识的超大规模的密钥生产与分发。

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基于ECC的CPK的主要思想如下：

(1)设定由整数矢量（rij）组成的m*h阶私钥种子矩阵SSK。适当选取阶为素数门的椭圆曲线E，选择其上的一个基点G，计算公钥矢量(rijG)=（xij，yij），得出公钥种子矩阵PSK。保留SSK，公布PSK；

(2)以用户A的标识ID为参数，作h次映射（映射函数可以是加密算法或Hash函数），得五个映射值MAPi(i=1，2，3，…，)，进行模n下的加法运算，得出私钥SK=(RMAP11+RMAP22+……+RMAPhh)；

(3)根据映射值和公钥种子矩阵，设用户A的h次映射值分别为i，j，k，进行椭圆曲线E上点的加法运算，得出公钥PKA。由此形成了用户A的公、私钥对PKA和SKA。因子矩阵大小为mh的CPK系统，可组合出的密钥量却为mh，因此，CPK只需很小的存储空间就可形成一个相当大的密钥空间。

9. 制程能力（CPK PPK）的计算有没有数据点要求

一般需要25组或以上的数据

10. 过程能力指数及标准差计算求助

你好，我觉得你的计算过程是没有问题的。
Cpk=（平均数-LSL）/3S
所以在平均数一定的情况下，标准差越小Cpk越大。
对于只有规格下限的单边规格，数据应该越接近规格下限越好，这样数据比较接近，方差就会较小，你的5个样品中，有4个落在了规格下限LSL=196N，而另一个落在了197N，由于样本容量过小，导致方差较大，于是Cpk就小了。
最重要的一点，计算Cpk时，取样数据至少应有20组数据，而且数据要具有一定代表性，所以你的计算出现的问题就是，样本容量太小。

参考资料：http://www.gztaiyou.com/html/201272313564.html