ppk数据测多少个

⑴ 螺纹加工如何做ppk统计

螺纹加工做PPK统计的话，只需使用合格的螺纹中径千分尺，测量螺纹的中径值（因为螺纹的作用部分是中径），以螺纹的中径公差范围作为上下限，最少记录50个数据，就可以计算出PPK值。
注：需根据螺纹的螺纹的螺距选择相对应的测头。

⑵ 计算CPK最少需要多少数据

一般情况下至少需要25组或以上的数据。

在制作CPK之前应先确定过程是否稳定，常用控制制图分析（最常用的是用Xbar-R图），而Xbar-R图一般是要100-125组数据，因而如果只有5组是不可行的。

就PPK而言过程稳定也是前提，在PPAP手册中也是建议用125组进行初始过程性能指数的计算。另就CPK与PPK只是长期能力指数与短期能力指数，在计算时都要求过程稳定，只是在标准差的计算上有所不同。

CPK密钥管理体制依据离散对数难题的数学原理构建公开密钥与私有密钥矩阵，采用杂凑函数与密码变换将实体的标识映射为矩阵的行坐标与列坐标序列，用以对矩阵元素进行选取与组合，生成数量庞大的由公开密钥与私有密钥组成的公钥、私钥对，从而实现基于标识的超大规模的密钥生产与分发。

(2)ppk数据测多少个扩展阅读

基于ECC的CPK的主要思想如下：

(1)设定由整数矢量（rij）组成的m*h阶私钥种子矩阵SSK。适当选取阶为素数门的椭圆曲线E，选择其上的一个基点G，计算公钥矢量(rijG)=（xij，yij），得出公钥种子矩阵PSK。保留SSK，公布PSK；

(2)以用户A的标识ID为参数，作h次映射（映射函数可以是加密算法或Hash函数），得五个映射值MAPi(i=1，2，3，…，)，进行模n下的加法运算，得出私钥SK=(RMAP11+RMAP22+……+RMAPhh)；

(3)根据映射值和公钥种子矩阵，设用户A的h次映射值分别为i，j，k，进行椭圆曲线E上点的加法运算，得出公钥PKA。由此形成了用户A的公、私钥对PKA和SKA。因子矩阵大小为mh的CPK系统，可组合出的密钥量却为mh，因此，CPK只需很小的存储空间就可形成一个相当大的密钥空间。

⑶ ppk有范围吗

1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式

Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：

Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：

（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）

CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：

CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：

2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义

Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。即：

Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为： 或 的最小值。即：

其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ|

3、公式中标准差的不同含义

①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出。

因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。确保过程受控后，再计算Cp、Cpk。

②由于普通和特殊两种原因所造成的变差，可以用样本标准差S来估计，过程性能指数的计算使用该标准差。

4、几个指数的比较与说明

① 无偏离的Cp表示过程加工的均匀性（稳定性），即“质量能力”，Cp越大，这质量特性的分布越“苗条”，质量能力越强；而有偏离的Cpk表示过程中心μ与公差中心M的偏离情况，Cpk越大，二者的偏离越小，也即过程中心对公差中心越“瞄准”。使过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。Cp与Cpk的着重点不同，需要同时加以考虑。

② Pp和Ppk的关系参照上面。

③ 关于Cpk与Ppk的关系，这里引用QS9000中PPAP手册中的一句话：“当可能得到历史的数据或有足够的初始数据来绘制控制图时（至少100个个体样本），可以在过程稳定时计算Cpk。对于输出满足规格要求且呈可预测图形的长期不稳定过程，应该使用Ppk。”

④ 另外，我曾经看到一位网友的帖子，在这里也一起提供给大家（没有征得原作者本人同意，在这里向原作者表示歉意和感谢），上面是这样写的：

“所谓PPK，是进入大批量生产前，对小批生产的能力评价，一般要求≥1.67；而CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降，且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价，一般要求≥1.33；一般来说，CPK需要借助PPK的控制界限来作控制。… …

One is in QS9000. Ppk in QS9000 means Preliminary Process Capability Index. It should be calculated before Mass Proction and based on limited proct quantity. Normally, it should be more than 1.67 because it's a short term process capability which doesn't consider the long term variation. But, in QS9000 3rd edition, there's no Compulsory Requirement that the Ppk must be more than 1.67. In QS9000 3rd edition, it states like Ppk/Cpk >=1.33.

Another one is in 6-Sigma. Ppk in 6-Sigma means Process Performance Index. It's a long term process capability covered the long term process variation and based on more proct quantity. Generally, in 6-Sigma, the Ppk value is less than Cpk value.

Ppk：Overall performance capability of a process, see Cpk. 过程的整体表现能力。

Cp：A widely used capability index for process capability studies. It may range in value from zero to infinity with a larger value indicating a more capable process. Six Sigma represents Cp of 2.0. 在流程能力分析方面被广泛应用的能力指数，在数值方面它可能是从零到显示更强有力流程的无穷大之间的某个点。六个西格玛代表的是Cp=2.0。

Cpk：A process capability index combining Cp and k (difference between the process mean and the specification mean) to determine whether the process will proce units within tolerance. Cpk is always less than or equal to Cp.一个将Cp和k（表示流程平均值与上下限区间平均值之间的差异）结合起来的流程能力指数，它用来确定流程是否将在容忍度范围内生产产品，Cpk通常要么比Cp值小，要么与Cp值相同。”

在一般的QS9000或TS16949推行过程中，Ppk用来表示短期能力指数，Cpk用来表示长期能力指数。但是受知识所限，我本人没有看到这方面的权威资料。这位网友的帖子上面也表达了两种不同的观点，而且这两种观点近乎对立。我本人认为，从Ppk的计算公式中使用的 分析，Ppk表达的应该是一个包含引起变差的普通原因和特殊原因的过程。这样的过程其实就是一个非受控过程，而一个非受控过程在理论上应该是在过程初期和长期过程中都会遇到的。

5.Cm、Cmk与pp.ppk计算的公式一致,采用连续抽样。

⑷ ppk怎么算的

Cpk与Ppk其公式皆同,其差异在于Sigma计算方式不一样.Ppk和Cpk的区别点：1.δ的计算不一样,Ppk仅仅是用统计的方法计算,Cpk用经验公式计算（偏差很小的） 2.样本取样方法不一样：Ppk要短时间内连续生产的,Cpk一般是每天取一组数据（一般5个）.Ppk的计算公式和对应的cpk计算公式相同,所不同的就是分母部分的变差不同,在此时变差是用标准偏差的计算公式进行计算的,此时的变差包含了普通因素和特殊因素产生的两种变差,也即在同一个过程下,此变差应该大于等于上面计算,cpk只考虑普通因素时的变差,当且仅当此过程只受普通因素变差影响时,两者相等,此时ppk=cpk,所以说理论上cpk应该是恒大于ppk,但很多时候计算出的ppk会略微大于cpk,这时因为cpk的变差是估算得来的,所以会有一定的误差,但并不影响对最终过程能力大小的评价.

⑸ ppk测量流程

1. 首先取100个数据

2. 计算这100个数据的平均值mean

3. 计算这100个数据的标准差S

4. 计算PPK，PPK的公式是：PPK=min【(USL-mean)/3S,(mean-LSL)/3S】

   其中USL是规格上线，LSL是规格下限

⑹ PPK值的简介

PP（PerformanceIndex of Process）：定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达 式为： Pp性能指数公式
ppk：是指考虑过程有特殊原因引起的偏差时，样本数据的过程性能。 ppk是spc第二版中提到的新内容。（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序） CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限： CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限。其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ| 关于Cpk与Ppk的关系，这里引用TS16949中PPAP手册中的一句话：“当可能得到历史的数据或有足够的初始数据来绘制控制图时（至少100个个体样本），可以在过程稳定时计算Cpk。对于输出满足规格要求且呈可预测图形的长期不稳定过程，应该使用Ppk。”

⑺ 32个数据可以计算ppk吗

在实际的生产过程中,采集的数据符合正态分布的仅不到2.5%,所以在计算PPK或CPK时,在软件里都会对数据鉴别是否符合正态分布,然后按照具体的分布进行计算.

⑻ 关于CMK、CPK、PPK取样理论来说CMK、CPK、PPK是需要连续取样的，CMK取样50、CPK与PPK都是25组，每组5只

问题1：所谓的连续取样是否表示测量时也需要连续？如我是连续取1-50产品的，那我测量时应该要按顺序1-50的测量并记录数据吗？PPK肯定是连续抽样，顺序是否排，是否编号看你研究需要，我个人建议不排顺序，但编号，一旦出现疑问时对样件可以多次测量，减少测量的失误；PPK研究的对象是相对来说一个较短的稳定过程，而CPK研究的是一个有变化的较长过程，如刀具更换过，加工参数调整过，所以是间隔抽样；如新品开发时提交PPAP时一定是PPK；
问题2：现我的模具是一模两穴的，即打一次模具出来两个产品，如何取样？例测量CMK时是取25模50只产品，还是100只产品做两次CMK？CPK、PPK同问 该问题相当于加工中心多工位的过程能力，CMK、PPK的抽样方式是各工位单独统计分析，连续抽样；若混合抽样，你的数据就代表CPK水平，也相当于不同的夹具，不同的定位；
问题3：我们国产的设备能达到CMK≥1.67、CPK≥1.67、1.33≤PPK≤1.67的要求？这问题问歪了，设备CMK，提要求的是你，而没有标准，你在买设备时协议上去要求供应商，（汽车行业的参考是，关键加工功能CM≥2，CMK≥1.67)，且选择怎么样的公差非常关键，我们有个技术员今年叫我们验收一台津上车床，产品外圆公差0.2，被我骂的半死，0.2的公差小台车都能达到CM≥2，还需要去验证码！所以设备的CMK更国产、进口没关系，标准掌握在你手里，合适的精度（研究对象产品的公差）去定义它才是关键；CPK、PPK，也一样，是谁提出要求，谁就是标准；
问题4：如果我们的CMK不合格，但是我们的产品做出来还是有几个符合要求的，是不是说明CMK通过工程人员的努力，更改其他条件还是有可能做到合格的？这里还是牵涉到标准问题，过程能力低于1.33，原则上安排全检；

对追问的一些问题：
1、注塑机的验收，设备能力方面，具体哪些为关键特性，是由你们提出要求设备供应商做到，如注塑自动上料的重量，设备设置每次自动送料100g，设备送料精度±0.5g，连续抽样30件，统计分析一致性，这就是一种关键特性的设别和定义，其关键性比一般几何尺寸还重要；
2、你是否对国产设备有偏见？国产台钻+0.2公差，为什么不能达到？影响他加工一致性的是单纯设备吗？普通麻花钻VS成型钻，φ1.2钻刃长12VSφ12钻刃长1.2，手拿产品定位VS夹具定位，加工一致性有的比吗？你是未能定义设备的关键特性，被表象迷糊！！！

⑼ ppk测量数量

首先取100个数据计算这100个数据的平均值mean计算这100个数据的标准差S计算PPK，PPK的公式是：PPK=min【(USL-mean)/3S,(mean-LSL)/3S】其中USL是规格.

⑽ ppk 和msa在试生产阶段需要测多少件

PPK一般无特别要求需要25组数据，也有125组的。
MSA不是一个性质的。要看你做的是什么内容。