半導體FT測試程序如何寫

『壹』 如何編寫測試程序

不用 如果你創建所有類文件都在同一個包里，那麼就直接寫個test類，在test類中 直接使用你之前所創建類的就可以了，

前提是你的test類和其他的類在同一級目錄中，不需要繼承，也不需要介面的。

直接調用

比如你寫了個類文件A.java

又寫了個測試類test.java,且A和test在同一級目錄

那麼在test.java中直接使用就行

比如

test.java{
public static void main(args[]){
A a;
}
}

『貳』 軟體測試報告如何寫

測試分析報告：

1、編寫目的：說明這份測試分析報告的具體編寫目的，指出預期的閱讀范圍。

2、測試概要：用表格的形式列出每一項測試的標識符及其測試內容，並指明實際進行的測試工作內容與測試計劃中預先設計的內容之間的差別，說明作出這種改變的原因。

3、測試結果及發現：把本項測試中實際得到的動態輸出（包括內部生成數據輸出）結果同對於動態輸出的要求進行比較，陳述其中的各項發現。

4、對軟體功能的結論：簡述該項功能，說明為滿足此項功能而設計的軟體能力以及經過一項或多項測試已證實的能力。說明測試數據值的范圍（包括動態數據和靜態數據），列出就這項功能而言，測試期間在該軟體中查出的缺陷、局限性。

測試原則

對計算機軟體進行測試前，首先需遵循軟體測試原則，即不完全原則的遵守。不完全原則即為若測試不完全、測試過程中涉及免疫性原則的部分較多，可對軟體測試起到一定幫助。

因軟體測試因此類因素具有一定程度的免疫性，測試人員能夠完成的測試內容與其免疫性成正比，若想使軟體測試更為流暢、測試效果更為有效，首先需遵循此類原則，將此類原則貫穿整個開發流程，不斷進行測試，而並非一次性全程測試。

以上內容參考：網路-軟體測試

『叄』 半導體FT測試流程簡介