⑴ xrd可以得到納米材料的哪些結構信息
太多了，簡單說幾個：
晶體結構。依據布拉格方程不同的晶體都會產生特定的衍射峰，由此可以知道材料的晶體結構。
依據峰位移動，峰位寬化與否，判斷諸如摻雜，晶粒生長等問題。
和晶體結構相關的晶胞參數。a,b,c,夾角，晶粒尺寸，晶胞體積，殘余應力。
利用XRD還可以進行點陣參數確定。
如果是多晶樣品，還可以依據峰強測得樣品的相對含量。
更進一步的話，如果對XRD進行結構精修，還可以獲得電子雲密度，鍵長，鍵角等信息。
以上
⑵ 根據X射線衍射實驗數據可以得到哪些信息
一、譜圖橫坐標2θ,從而知道掠射角θ(入射角的餘角,又稱為布拉格角).然後就可以求得譜線對應的晶面-晶面間距d值；最後可獲得晶體的長寬高幾何尺寸.
可參見我的以前回答：
二、譜圖的譜線強度（縱標）；如果是照片、感光底片的話,就是光斑的亮度.
影響衍射強度各因子的物理意義及其計算方法
衍射線的強度能反映晶體內微觀結構信息,因此進行衍射強度分析的過程也是完成晶體結構判斷的過程；衍射強度分析是衍射分析基本理論的重要組成部分.影響實際單相粉晶的某條衍射線強度的因素很多,其中可分為6大部分的影響因素：
第1部分是物理常數,不屬於影響因素；
第2部分為實驗參數,列為第1個影響因素的原子散射因子f與實驗參數有關.
第3部分是與樣品晶體結構有關的參數.其中多重性因子p和結構因子F(hkl)是第2個和第3個影響因素；
第4部分是與布拉格角（掠射角）θ有關的角因子,它由兩個因子合並而成：偏振因子（或稱為Thomson因子）和洛倫茲（Lorentz）因子 ；
第5部分是導致X射線強度衰減的吸收因子,它也是一個影響因素；
第6部分是為修正原子熱振動影響的溫度因子.
其中結構因子F(hkl)最感興趣：
F(hkl)由晶格結構決定,即由晶胞中原子的種類和原子位置分布決定.通常Fj表原子的原子散射因子,用Xj、Yj、Zj表原子j的位置.Fj的物理意義是j原子的相對於一個電子的散射波振幅之比,可按公式計算.結構因子是決定衍射強度的主要因素,它的計算方法一般為先假設晶胞中原子的可能坐標（xyz）然後進行結構振幅或衍射強度的計算,將計算結果與實測數據進行比較,若兩者吻合並且還能得到其它實驗如NMR、IR的旁證,則說明所假設結構正確；否則需修正假設,再計算,再比較,直至逼近吻合.這就是通過結構因子推求晶體結構的主要途徑.F(hkl)有各種表達式.這裡面的理論知識很多,也是X射線衍射分析的高級研究內容,這里不能贅述.
三、所有橫標縱標信息、強度信息、譜線分布譜線組合全體搭配信息,通俗地講就是衍射花樣,是XRD的重要信息,從中可能也可以導向對譜圖進行解析、歸屬譜線到晶面、推導出晶體的晶系晶型等等!
⑶ 從XRD測試結果可以獲得那些信息
我的許多回答都和你的問題有關，可以去看看：
http://..com/question/211197705.html，
如何分析X射線粉末衍射圖譜和數據？：http://..com/question/126659189.html?fr=qrl&cid=984&index=3&fr2=query；
運用XRD分析結果進行晶相鑒定：http://..com/question/123478742；
x射線衍射的原理及其可以解決的問題（應用）：http://..com/question/122264851；
一、譜圖橫坐標2θ，從而知道掠射角θ(入射角的餘角，又稱為布拉格角)。然後就可以求得譜線對應的晶面-晶面間距d值；最後可獲得晶體的長寬高幾何尺寸。
http://..com/question/156881338.html
http://..com/question/122433124.html
http://..com/question/126659189.html
二、譜圖的譜線強度（縱標）；如果是照片、感光底片的話，就是光斑的亮度。
影響衍射強度各因子的物理意義及其計算方法
衍射線的強度能反映晶體內微觀結構信息，因此進行衍射強度分析的過程也是完成晶體結構判斷的過程；衍射強度分析是衍射分析基本理論的重要組成部分。
三、所有橫標、縱標信息、強度信息、譜線分布、譜線組合、全體搭配信息，通俗地講就是衍射花樣，是XRD的重要信息，從中可能、也可以導向對譜圖進行解析、歸屬譜線到晶面、推導出晶體的晶系晶型等等！