A. 從XRD測試結果可以獲得那些信息
我的許多回答都和你的問題有關，可以去看看：
http://..com/question/211197705.html，
如何分析X射線粉末衍射圖譜和數據？：http://..com/question/126659189.html?fr=qrl&cid=984&index=3&fr2=query；
運用XRD分析結果進行晶相鑒定：http://..com/question/123478742；
x射線衍射的原理及其可以解決的問題（應用）：http://..com/question/122264851；
一、譜圖橫坐標2θ，從而知道掠射角θ(入射角的餘角，又稱為布拉格角)。然後就可以求得譜線對應的晶面-晶面間距d值；最後可獲得晶體的長寬高幾何尺寸。
http://..com/question/156881338.html
http://..com/question/122433124.html
http://..com/question/126659189.html
二、譜圖的譜線強度（縱標）；如果是照片、感光底片的話，就是光斑的亮度。
影響衍射強度各因子的物理意義及其計算方法
衍射線的強度能反映晶體內微觀結構信息，因此進行衍射強度分析的過程也是完成晶體結構判斷的過程；衍射強度分析是衍射分析基本理論的重要組成部分。
三、所有橫標、縱標信息、強度信息、譜線分布、譜線組合、全體搭配信息，通俗地講就是衍射花樣，是XRD的重要信息，從中可能、也可以導向對譜圖進行解析、歸屬譜線到晶面、推導出晶體的晶系晶型等等！
B. xrd可以得到納米材料的哪些結構信息
太多了，簡單說幾個：
晶體結構。依據布拉格方程不同的晶體都會產生特定的衍射峰，由此可以知道材料的晶體結構。
依據峰位移動，峰位寬化與否，判斷諸如摻雜，晶粒生長等問題。
和晶體結構相關的晶胞參數。a,b,c,夾角，晶粒尺寸，晶胞體積，殘余應力。
利用XRD還可以進行點陣參數確定。
如果是多晶樣品，還可以依據峰強測得樣品的相對含量。
更進一步的話，如果對XRD進行結構精修，還可以獲得電子雲密度，鍵長，鍵角等信息。
以上