計算過程能力需要多少組數據

1. minitab軟體多少數據能算過程能力

1. 對於輸出特性為離散型的數據過程，也需要進行過程能力的計算，數據分布不同（常見的分布為Poisson分布和二項分布），過程能力的計算方法也不同，常見的指標有DPMO，DPU等。在Minitab軟體中，可以通過以下方式計算得到這些數值：

2. 
   統計-----質量工具----能力分析----二項

3. 
   在Minitab的輸出圖形中，可以獲得很多信息，首先左側P控制圖和累積不良品的控制圖可以判斷流程是否處於穩定狀態，其次，右側的二項分布概率圖和不良品的直方圖表明過程輸出數據是否服從二項分布。再次，途中下方的摘要統計顯示過程的績效指標PPM的大小和缺陷率數值，然後計算出西格瑪水平及執行區間。

2. Cpk——過程能力指數是怎麼計算的1.33和1.67等等從何而來.

計算公式：Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)。1.33和1.67等是根據計算結果而來的。

min即取小的那個值，TU、TL分別為上、下公差界限；σ為過程統計量的總體標准差；μ為過程統計量的分布均值。

指數意義：

1、Cpk范圍1.67-2過大，可適當放寬檢驗。

2、Cpk范圍1.33-1.67充分，繼續保持。

3、Cpk范圍1-1.33正常，但接近1危險。

4、Cpk范圍小於1，需改進，嚴重時停產需整頓。

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計算Cpk的注意事項：

1、分析時，應注意對數據的正確分層，否則可能會發生誤判。

2、對公差界限進行分析時，需要觀察是否有異常點或者離群點出現。

3、當數據較多時，可能會重復數據出現，對重復數據要進行區分，並加以分析。

4、一般情況下，至少應取25組以上的數據進行分析。

5、通常情況下，橫坐標用來表示原因或者自變數，縱坐標用來表示效果或者因變數。

參考資料來源：網路=cpk

3. 過程能力分析需要多少個數據

過程能力也稱工序能力，是指過程加工方面滿足加工質量的能力，它是衡量過程加工內在一致性的，最穩態下的最小波動。當過程處於穩態時，產品的質量特性值有99.73%散布在區間μ-3σ，μ+3σ。

其中μ為產品特性值的總體均值，σ為產品特性值總體標准差，也即幾乎全部產品特性值都落在6σ的范圍內﹔因此，通常用6σ表示過程能力，它的值越小越好。

工序過程能力指該工序過程在5M1E正常的狀態下，能穩定地生產合格品的實際加工能力。過程能力取決於機器設備、材料、工藝、工藝裝備的精度、工人的工作質量以及其他技術條件。過程能力指數用Cp、Cpk表示。

4. 過程能力指數的應用

1 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。
2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。
3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。
4. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2；
5. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)
6. 依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度：Cp值
7. 依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值
8. Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）
A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
A+ 級 2.0 > Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
A 級 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A+級
B 級 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級
C 級 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力
D 級 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。

5. 根據給出的數據，計算cp，cpk和pp，ppk，並判斷過程能力是否可接收

CPK：Complex Process Capability index 縮寫現代企業用於表示制能力指標
CPK值越表示品質越佳
CPK=min（（X-LSL/3s）（USL-X/3s））
Cpk——程能力指數
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk應用講議
1. Cpk文定義：製程能力指數某工程或製程水準量化反應工程評估類指標
2. 同Cpk息息相關兩參數：Ca , Cp.
Ca: 製程准確度 Cp: 製程精密度
3. Cpk, Ca, Cp三者關系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)CpkCa及Cp兩者反應Ca反應位置關系(集趨勢)Cp反應散布關系(離散趨勢)
4. 選擇製程站別用Cpk作管控應本做考量首要素其品質特性製程影響度
5. 計算取數據至少應20~25組數據具定代表性
6. 計算Cpk除收集取數據外應知曉該品質特性規格限(USLLSL)才順利計算其值
7. 首先用ExcelSTDEV函數自計算所取數據標准差(σ)再計算規格公差(T)及規格值(u). 規格公差＝規格限－規格限；規格值＝（規格限+規格限）/2；
8. 依據公式： 計算製程准確度：Ca值
9. 依據公式：Cp = 計算製程精密度：Cp值
10. 依據公式：Cpk=Cp 計算製程能力指數：Cpk值
11. Cpk評級標准：（據標准計算製程能力指數做相應策）
A++級 Cpk≥2.0 特優 考慮本降低
A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應保持
A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良狀態穩定應盡力提升A＋級
B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 般 狀態般製程素稍變異即產良危險應利用各種資源及其提升 A級
C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程良較必須提升其能力
D 級 0.67 ＞ Cpk 接受 其能力太差應考慮重新整改設計製程
1、首先我先說明Pp、Cp兩者定義及公式
Cp（Capability Indies of Process）：穩定程能力指數定義容差寬度除程能力考慮程偏移般表達式：
Pp（Performance Indies of Process）：程性能指數定義考慮程偏移容差范圍除程性能般表達式：
（該指數僅用與Cp及Cpk比或/Cp、Cpk起度量確認段間內改進優先序）
CPU：穩定程限能力指數定義容差范圍限除實際程布寬度限般表達式：
CPL：穩定程限能力指數定義容差范圍限除實際程布寬度限般表達式：
2、現我闡述Cpk、Ppk含義
Cpk：考慮程能力（修）指數定義CPU與CPL值等於程均值與近規范界限間差除程總布寬度半即：
Ppk：考慮程性能（修）指數定義： 或 值即：
其實公式K定義布μ與公差M偏離度μ與M偏離ε=| M-μ|
3、公式標准差同含義

①Cp、Cpk計算穩定程能力穩定程程變差僅由普通原引起公式標准差通控制圖本平均極差估計

Cp、Cpk般與控制圖起使用首先利用控制圖判斷程否受控程受控要採取措施改善程使程處於受控狀態確保程受控再計算Cp、Cpk
②由於普通特殊兩種原所造變差用本標准差S估計程性能指數計算使用該標准差
4、幾指數比較與說明

① 偏離Cp表示程加工均勻性（穩定性）即質量能力Cp越質量特性布越苗條質量能力越強；偏離Cpk表示程μ與公差M偏離情況Cpk越二者偏離越即程公差越瞄準使程質量能力與管理能力二者綜合結Cp與Cpk著重點同需要同加考慮
② PpPpk關系參照面
③ 關於Cpk與Ppk關系引用QS9000PPAP手冊句：能歷史數據或足夠初始數據繪制控制圖（至少100體本）程穩定計算Cpk於輸滿足規格要求且呈預測圖形期穩定程應該使用Ppk

所謂PPK進入批量產前批產能力評價般要求≥1.67；CPK進入批量產保證批量產產品品質狀況至於降且保證與批產具同控制能力所進行產能力評價般要求≥1.33；般說CPK需要藉助PPK控制界限作控制… …
PPK短期程能力即初始程能力般初期確認程否穩定於1.67即轉入期程能力管理CPK至於CMK計算與PPK前提模具與設備作整體即必須使用合格模具排除設備外素影響..
知道能能明白兩都關系與區別呢

6. 統計工序能力指數最少的多少組數據

首先，在統計工序能力數據之前必須確定該工序處於穩態，也就是異常因素已經排除。這樣統計的數據才能反映出該工序的真實能力，統計收集數據時應分時間段進行收集，每次收集一組數據（5個數據），正常收集25組數據後使用SPC或者Minitab進行計算工序能力。

7. 在抽樣計算cpk的過程中,一般要抽取幾組數據,每組含數據含多少樣本

不是這樣理解的,是需要80-100樣品數據,在一定時間范圍採集.

8. 計算CPK最少需要多少數據

一般情況下至少需要25組或以上的數據。

在製作CPK之前應先確定過程是否穩定，常用控制制圖分析（最常用的是用Xbar-R圖），而Xbar-R圖一般是要100-125組數據，因而如果只有5組是不可行的。

就PPK而言過程穩定也是前提，在PPAP手冊中也是建議用125組進行初始過程性能指數的計算。另就CPK與PPK只是長期能力指數與短期能力指數，在計算時都要求過程穩定，只是在標准差的計算上有所不同。

CPK密鑰管理體制依據離散對數難題的數學原理構建公開密鑰與私有密鑰矩陣，採用雜湊函數與密碼變換將實體的標識映射為矩陣的行坐標與列坐標序列，用以對矩陣元素進行選取與組合，生成數量龐大的由公開密鑰與私有密鑰組成的公鑰、私鑰對，從而實現基於標識的超大規模的密鑰生產與分發。

(8)計算過程能力需要多少組數據擴展閱讀

基於ECC的CPK的主要思想如下：

(1)設定由整數矢量（rij）組成的m*h階私鑰種子矩陣SSK。適當選取階為素數門的橢圓曲線E，選擇其上的一個基點G，計算公鑰矢量(rijG)=（xij，yij），得出公鑰種子矩陣PSK。保留SSK，公布PSK；

(2)以用戶A的標識ID為參數，作h次映射（映射函數可以是加密演算法或Hash函數），得五個映射值MAPi(i=1，2，3，…，)，進行模n下的加法運算，得出私鑰SK=(RMAP11+RMAP22+……+RMAPhh)；

(3)根據映射值和公鑰種子矩陣，設用戶A的h次映射值分別為i，j，k，進行橢圓曲線E上點的加法運算，得出公鑰PKA。由此形成了用戶A的公、私鑰對PKA和SKA。因子矩陣大小為mh的CPK系統，可組合出的密鑰量卻為mh，因此，CPK只需很小的存儲空間就可形成一個相當大的密鑰空間。

9. 製程能力（CPK PPK）的計算有沒有數據點要求

一般需要25組或以上的數據

10. 過程能力指數及標准差計算求助

你好，我覺得你的計算過程是沒有問題的。
Cpk=（平均數-LSL）/3S
所以在平均數一定的情況下，標准差越小Cpk越大。
對於只有規格下限的單邊規格，數據應該越接近規格下限越好，這樣數據比較接近，方差就會較小，你的5個樣品中，有4個落在了規格下限LSL=196N，而另一個落在了197N，由於樣本容量過小，導致方差較大，於是Cpk就小了。
最重要的一點，計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性，所以你的計算出現的問題就是，樣本容量太小。

參考資料：http://www.gztaiyou.com/html/201272313564.html