計算ckp要多少個數據

㈠ 關於計算CPK的樣本量。

這和流程本身穩定性有關，其實流程越穩定，需要的樣本量越少。
實踐中，這個和SPC的要求一樣，一般要20到30組數據，每組樣本量不小於4。這就是經常在實踐中看到選25組數據，共100個數據來算CPK的原因。
如果數據非正態，一般按一下流程走：
1.
首先看看那些非正態的點，找找原因。能找到明確的原因，就能去掉那些點，或重新收集數據。
2.
試試用指數函數轉化。如minitab中的Box-Cox功能。
3.
用中心極限定理轉換

㈡ 如何計算CP,CPK

一、cp指數的計算：

Cp=T/（6*σ），其中T=允許最大值（Tu）-允許最小值（Tl）；σ越小，其Cp值越大，則過程技術能力越好。Cp是指過程滿足技術要求的能力，常用客戶滿意的偏差范圍除以六倍的西格瑪的結果來表示。

二、cpk指數的計算：

Cpk=MIN（Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ）；或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

(2)計算ckp要多少個數據擴展閱讀：

cp和cpk指數的意義：

工序能力是表示生產過程客觀存在著分散的一個參數。但是這個參數能否滿足產品的技術要求，僅從它本身還難以看出。因此，還需要另一個參數來反映工序能力滿足產品技術要求的程度。這個參數就叫做工序能力指數，表示技術要求和工序能力的比值。

過程能力指數的值越大，表明產品的離散程度相對於技術標準的公差范圍越小，因而過程能力就越高；過程能力指數的值越小，表明產品的離散程度相對公差范圍越大，因而過程能力就越低。

因此，可以從過程能力指數的數值大小來判斷能力的高低。從經濟和質量兩方面的要求來看，過程能力指數值並非越大越好，而應在一個適當的范圍內取值。

製程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值。製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上，作為製程持續改善的依據。CPK值越大表示生產工序過程保持穩定的能力越充足。

㈢ CPK計算只抽25個數據,是否可以,科學么為什麼

二者都合理，這取決於你數據的分組和每個子組的數據量
25個數據也可以算的，你可以把數據分成25組，每個子組數量設定成1；
前提是數據要是正態的。
正態性的檢驗和cpk的計算可以使用mintab或者jmp。
ppk的計算就相對簡單些，無需正態，excel就可以很容易的算出來。

㈣ 為什麼計算CPK需要20-25組數據

因為每組要有4-5個樣本, 那麼就是說至少要有100個數據,這是統計學家根據實踐建議的比較能夠體現代表性的樣本數量

㈤ cpk計算公式

CPK的計算公式是CPK=Cp*（1-|Ca|）。
1.
CPK是「Combined
Public
Key」的縮寫，中文名為組合公鑰，是一種加密演算法，以很小的資源，生成大規模密鑰。
2.
特性
ECC特性
存儲量與密鑰規模
ECC遵從IEEE標准。
組合矩陣(Combining-matrix)分為私鑰矩陣和公鑰矩陣，分割密鑰序列(Separating-keysequence
)由一定數量的分割密鑰(Separating-key)構成，密鑰對用(ssk,
SPK)標記。
標識密鑰(Identity-key)由標識產生，用(isk,IPK)標記。
組合密鑰(Combined-key)由標識密鑰和分割密鑰復合而成，用(csk,CPK)標記。
復合特性
在橢圓曲線密碼ECC中，任意多對公、私鑰，其私鑰之和與公鑰之和構成新的公、私鑰對。
如果，私鑰之和為：(
r1
+
r2
+
…
+
rm
)
mod
n
=
r
則對應公鑰之和為：
R1
+
R2
+
…
+
Rm=
R
(點加)
那麼，r和R剛好形成新的公、私鑰對。
因為，R
=
R1
+
R2
+
…
+
Rm
=r1G
+
r2G
+…+
rmG
=
(r1
+r2
+…+
rm)
G
=
r
G
3.
分類：標識密鑰、分割鑰匙、組合鑰匙
4.
意義：製程水平的量化反映。製程能力指數：是一種表示製程水平高低的方便方法，其實質作用是反映製程合格率的高低。
5.
計算公式
CPK=Cp*（1-|Ca|）
Ca
(Capability
of
Accuracy)：製程准確度；在衡量「實際平均值」與「規格中心值」之一致性。對於單邊規格，因不存在規格中心，因此不存在Ca；對於雙邊規格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。
Cp
(Capability
of
Precision)：製程精密度；在衡量「規格公差寬度」與「製程變異寬度」之比例。對於單邊規格，只有上限和中心值，Cpu
=
|
USL-ˉx
|
/
3σ
或
只有下限和中心值，Cpl
=
|
ˉx
-LSL
|
/
3σ；對於雙邊規格：Cp=(USL-LSL)
/
6σ=T/6σ
參考資料
網路—CPK：https://ke..com/item/CPK/4333067?fr=aladdin#4_3

㈥ CPK如何計算

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)

或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）

通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

(6)計算ckp要多少個數據擴展閱讀

應用

1 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

4. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2。

5. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)。

6. 依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度：Cp值。

7. 依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值。

㈦ CPK的計算方法

信息安全領域的定義：CPK是「Combined Public Key」的縮寫，即中文名為組合公鑰，是一種加密演算法，以很小的資源，生成大規模密鑰。
工程領域的定義：CPK是「Process Capability Index」 的縮寫。CPK的中文定義為：製程能力指數，是現代企業用於表示製程能力的指標，也即某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。
計算公式
CPK=Cp*（1-|Ca|）
Ca (Capability of Accuracy)：製程准確度；在衡量「實際平均值」與「規格中心值」之一致性。對於單邊規格，因不存在規格中心，因此不存在Ca；對於雙邊規格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。
Cp (Capability of Precision)：製程精密度；在衡量「規格公差寬度」與「製程變異寬度」之比例。對於單邊規格，只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ 或 只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ；對於雙邊規格：Cp=(USL-LSL) / 6σ=T/6σ
注意: 計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性。

㈧ CPK的計算方法，舉例說明！

CPK：
Complex
Process
Capability
index
是現代企業用於表示製成能力的指標。

CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））

Cpk——過程能力指數

CPK=
Min[
(USL-
Mu)/3s,
(Mu
-
LSL)/3s]

Cpk應用講議

1.
Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。

2.
同Cpk息息相關的兩個參數：Ca
,
Cp.

Ca:
製程准確度。
Cp:
製程精密度。

3.
Cpk,
Ca,
Cp三者的關系：
Cpk
=
Cp
*
(
1
-
｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)

4.
當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

5.
計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

6.
計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

7.
首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u).
規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；

8.
依據公式：Ca=(X-U)/(T/2)
，
計算出製程准確度：Ca值

9.
依據公式：Cp
=T/6σ
，
計算出製程精密度：Cp值

10.
依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|)
，
計算出製程能力指數：Cpk值

11.
Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）

A++級
Cpk≥2.0
特優
可考慮成本的降低

A+
級
2.0
＞
Cpk
≥
1.67
優
應當保持之

A
級
1.67
＞
Cpk
≥
1.33
良
能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級

B
級
1.33
＞
Cpk
≥
1.0
一般
狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為
A級

C
級
1.0
＞
Cpk
≥
0.67
差
製程不良較多，必須提升其能力

D
級
0.67
＞
Cpk
不可接受
其能力太差，應考慮重新整改設計製程。
PPK：

Pp（Performance
Indies
of
Process）：過程性能指數，定義為不考慮過程有無偏移時，容差范圍除以過程性能。

（該指數僅用來與Cp及Cpk對比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序）

CPU：穩定過程的上限能力指數，定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限：

CPL：穩定過程的下限能力指數，定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限。

公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=|
M-μ|

關於Cpk與Ppk的關系，這里引用QS9000中PPAP手冊中的一句話：「當可能得到歷史的數據或有足夠的初始數據來繪制控制圖時（至少100個個體樣本），可以在過程穩定時計算Cpk。對於輸出滿足規格要求且呈可預測圖形的長期不穩定過程，應該使用Ppk。」

所謂PPK，是進入大批量生產前，對小批生產的能力評價，一般要求≥1.67；而CPK，是進入大批量生產後，為保證批量生產下的產品的品質狀況不至於下降，且為保證與小批生產具有同樣的控制能力，所進行的生產能力的評價，一般要求≥1.33；一般來說，CPK需要藉助PPK的控制界限來作控制。

㈨ 計算CPK最少需要多少數據

一般情況下至少需要25組或以上的數據。

在製作CPK之前應先確定過程是否穩定，常用控制制圖分析（最常用的是用Xbar-R圖），而Xbar-R圖一般是要100-125組數據，因而如果只有5組是不可行的。

就PPK而言過程穩定也是前提，在PPAP手冊中也是建議用125組進行初始過程性能指數的計算。另就CPK與PPK只是長期能力指數與短期能力指數，在計算時都要求過程穩定，只是在標准差的計算上有所不同。

CPK密鑰管理體制依據離散對數難題的數學原理構建公開密鑰與私有密鑰矩陣，採用雜湊函數與密碼變換將實體的標識映射為矩陣的行坐標與列坐標序列，用以對矩陣元素進行選取與組合，生成數量龐大的由公開密鑰與私有密鑰組成的公鑰、私鑰對，從而實現基於標識的超大規模的密鑰生產與分發。

(9)計算ckp要多少個數據擴展閱讀

基於ECC的CPK的主要思想如下：

(1)設定由整數矢量（rij）組成的m*h階私鑰種子矩陣SSK。適當選取階為素數門的橢圓曲線E，選擇其上的一個基點G，計算公鑰矢量(rijG)=（xij，yij），得出公鑰種子矩陣PSK。保留SSK，公布PSK；

(2)以用戶A的標識ID為參數，作h次映射（映射函數可以是加密演算法或Hash函數），得五個映射值MAPi(i=1，2，3，…，)，進行模n下的加法運算，得出私鑰SK=(RMAP11+RMAP22+……+RMAPhh)；

(3)根據映射值和公鑰種子矩陣，設用戶A的h次映射值分別為i，j，k，進行橢圓曲線E上點的加法運算，得出公鑰PKA。由此形成了用戶A的公、私鑰對PKA和SKA。因子矩陣大小為mh的CPK系統，可組合出的密鑰量卻為mh，因此，CPK只需很小的存儲空間就可形成一個相當大的密鑰空間。