跑cpk需要多少點數據

㈠ 製作CPK需要多少數據

cpk 需要建立在製程能力穩定的情況下
搬遷 屬於改變製程加工條件 這個生產件按標准需要重新提供PPAP
所以前後的數據不可以合在一起計算CPK
搬遷前的你可以計算CPK
搬遷後的計算值以PPK 為准 PPK取樣最低50 40幾個勉強可以計算

㈡ 試量產計算Cpk需多少數據

一般是抽25組，每組4~5個數據。不過你還沒量產應該做PPK更合適一些。

㈢ CPK如何計算

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)

或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）

通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

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應用

1 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

4. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2。

5. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)。

6. 依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度：Cp值。

7. 依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值。

㈣ CPK要求每組數據都一樣多嗎

在製作CPK之前應先確定過程是否穩定，常用控制制圖分析（最常用的是用Xbar-R圖），而Xbar-R圖一般是要100-125組數據，因而如果只有5組是不可行的。

就PPK而言過程穩定也是前提，在PPAP手冊中也是建議用125組進行初始過程性能指數的計算。另就CPK與PPK只是長期能力指數與短期能力指數，在計算時都要求過程穩定，只是在標准差的計算上有所不同。

工序在一定時間里，處於控制狀態（穩定狀態）下的實際加工能力。它是工序固有的能力，或者說它是工序保證質量的能力。這里所指的工序，是指操作者、機器、原材料、工藝方法和生產環境等五個基本質量因素綜合作用的過程，也就是產品質量的生產過程。

㈤ CPK的數據為什麼要大於30

不斷把相關數據代入公式，計算，過程中用EXCEL表調整數據（不斷調整相關參數，得不同得CPK值），看什麼條件才能達到客戶得要求

CPK：Complex Process Capability index 的縮寫，是現代用於表示製成能力的指標。

CPK值越大表示品質越佳。

CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））

Cpk——過程能力指數

CPK=﹛公差-2*(製程中心-規格中心)﹜/6δ

δ=R平均值除2.33(2.33是通用常數)

Cpk應用講議

1. Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。

2. 2. 同Cpk息息相關的兩個參數：Ca , Cp.

3. Ca: 製程准確度。 Cp: 製程精密度。

4. 3. Cpk, Ca, Cp三者的關系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)

5. 4. 當選擇製程站別用Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

6. 5. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

7. 6. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

8. 7. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；

9. 8. 依據公式： ， 計算出製程准確度：Ca值

10. 9. 依據公式：Cp = ， 計算出製程精密度：Cp值

11. 10. 依據公式：Cpk=Cp ， 計算出製程能力指數：Cpk值

12. 11. Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）

13. A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低

14. A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之

15. A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級

16. B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級

17. C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力

18. D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。
    

㈥ cpk最低量測模數是多少

CPK通常是125個數據，5個為一組，一共25組。
但是也有少一點的那種，Mini-CPK, 40個一組的，仍然是5個為一組，一共8組，我以前做過Nokia手機的，當時我們就是這樣用的。
參考資料裡面有個《Excel模板自動生成CPK, SPC, Run Chart結果和曲線圖:125個樣品範例》

㈦ 計算CPK最少需要多少數據

一般情況下至少需要25組或以上的數據。

在製作CPK之前應先確定過程是否穩定，常用控制制圖分析（最常用的是用Xbar-R圖），而Xbar-R圖一般是要100-125組數據，因而如果只有5組是不可行的。

就PPK而言過程穩定也是前提，在PPAP手冊中也是建議用125組進行初始過程性能指數的計算。另就CPK與PPK只是長期能力指數與短期能力指數，在計算時都要求過程穩定，只是在標准差的計算上有所不同。

CPK密鑰管理體制依據離散對數難題的數學原理構建公開密鑰與私有密鑰矩陣，採用雜湊函數與密碼變換將實體的標識映射為矩陣的行坐標與列坐標序列，用以對矩陣元素進行選取與組合，生成數量龐大的由公開密鑰與私有密鑰組成的公鑰、私鑰對，從而實現基於標識的超大規模的密鑰生產與分發。

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基於ECC的CPK的主要思想如下：

(1)設定由整數矢量（rij）組成的m*h階私鑰種子矩陣SSK。適當選取階為素數門的橢圓曲線E，選擇其上的一個基點G，計算公鑰矢量(rijG)=（xij，yij），得出公鑰種子矩陣PSK。保留SSK，公布PSK；

(2)以用戶A的標識ID為參數，作h次映射（映射函數可以是加密演算法或Hash函數），得五個映射值MAPi(i=1，2，3，…，)，進行模n下的加法運算，得出私鑰SK=(RMAP11+RMAP22+……+RMAPhh)；

(3)根據映射值和公鑰種子矩陣，設用戶A的h次映射值分別為i，j，k，進行橢圓曲線E上點的加法運算，得出公鑰PKA。由此形成了用戶A的公、私鑰對PKA和SKA。因子矩陣大小為mh的CPK系統，可組合出的密鑰量卻為mh，因此，CPK只需很小的存儲空間就可形成一個相當大的密鑰空間。

㈧ 在抽樣計算cpk的過程中,一般要抽取幾組數據,每組含數據含多少樣本

不是這樣理解的,是需要80-100樣品數據,在一定時間范圍採集.

㈨ CPK計算只抽25個數據,是否可以,科學么為什麼

二者都合理，這取決於你數據的分組和每個子組的數據量
25個數據也可以算的，你可以把數據分成25組，每個子組數量設定成1；
前提是數據要是正態的。
正態性的檢驗和cpk的計算可以使用mintab或者jmp。
ppk的計算就相對簡單些，無需正態，excel就可以很容易的算出來。

㈩ 關於計算CPK的樣本量。

這和流程本身穩定性有關，其實流程越穩定，需要的樣本量越少。
實踐中，這個和SPC的要求一樣，一般要20到30組數據，每組樣本量不小於4。這就是經常在實踐中看到選25組數據，共100個數據來算CPK的原因。
如果數據非正態，一般按一下流程走：
1.
首先看看那些非正態的點，找找原因。能找到明確的原因，就能去掉那些點，或重新收集數據。
2.
試試用指數函數轉化。如minitab中的Box-Cox功能。
3.
用中心極限定理轉換