cpk數據多少

Ⅰ CPK如何計算

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)

或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）

通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

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應用

1 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

4. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2。

5. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)。

6. 依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度：Cp值。

7. 依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值。

Ⅱ 什麼是Cpk數據

CPK數據就是工序能力指數，CPK標准值是1.33，現在有自動計算的軟體，輸入數據自動計算CPK等數據和繪直方圖。

Ⅲ 如何計算CP,CPK

一、cp指數的計算：

Cp=T/（6*σ），其中T=允許最大值（Tu）-允許最小值（Tl）；σ越小，其Cp值越大，則過程技術能力越好。Cp是指過程滿足技術要求的能力，常用客戶滿意的偏差范圍除以六倍的西格瑪的結果來表示。

二、cpk指數的計算：

Cpk=MIN（Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ）；或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

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cp和cpk指數的意義：

工序能力是表示生產過程客觀存在著分散的一個參數。但是這個參數能否滿足產品的技術要求，僅從它本身還難以看出。因此，還需要另一個參數來反映工序能力滿足產品技術要求的程度。這個參數就叫做工序能力指數，表示技術要求和工序能力的比值。

過程能力指數的值越大，表明產品的離散程度相對於技術標準的公差范圍越小，因而過程能力就越高；過程能力指數的值越小，表明產品的離散程度相對公差范圍越大，因而過程能力就越低。

因此，可以從過程能力指數的數值大小來判斷能力的高低。從經濟和質量兩方面的要求來看，過程能力指數值並非越大越好，而應在一個適當的范圍內取值。

製程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值。製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上，作為製程持續改善的依據。CPK值越大表示生產工序過程保持穩定的能力越充足。

Ⅳ 這組數據的CPK值怎麼算是多少

不用那麼復雜的計算就能夠知道Cpk大約為0，因為計算出的平均值為3.10，規格下限也是3.10，
按照Cpk公式：
MIN( (USL-X bar)/3Sigma,( Xbar-LSL)/3Sigma )
因為 平均值和規格下限重合，故Cpk 為0

若是其它的數據可以用MINITAB 或EXCEL自行計算

Ⅳ cpk最低量測模數是多少

CPK通常是125個數據，5個為一組，一共25組。
但是也有少一點的那種，Mini-CPK, 40個一組的，仍然是5個為一組，一共8組，我以前做過Nokia手機的，當時我們就是這樣用的。
參考資料裡面有個《Excel模板自動生成CPK, SPC, Run Chart結果和曲線圖:125個樣品範例》

Ⅵ 一般情況CPK最大值到多少算比較正常

CPK的值越大說明生產的控制越精確，但是生產質量控制同樣也需要成本的， 即使考慮到長期的製程波動，CPK的值一般大於1.67就算是達標了， 超過2的話， 就有點能力過剩。

Cpk的評級標准：

A＋＋級 Cpk≥2。0 特優可考慮成本的降低

A＋ 級 2。0 ＞ Cpk ≥ 1。67 優 應當保持之A 級 1。

67 ＞ Cpk ≥ 1。33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級B 級 1。

33 ＞ Cpk ≥ 1。0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為A級C 級 1。

0 ＞ Cpk ≥ 0。67 差 製程不良較多，必須提升其能力D 級 0。

67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。

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CPK組合私鑰csk是標識私鑰isk和分割私鑰ssk相加而成，分割私鑰序列是亂數序列，用於對標識私鑰的加密。因為標識私鑰是組合矩陣變數的線性組合，只有消除分割私鑰的影響，才能暴露標識密鑰的線性方程。消除分割私鑰的辦法是尋找分割私鑰的重復。

設組合矩陣變數的總量為N1，分割私鑰變數的總量為N2。因為標識密鑰方程組的秩為N1-1，要列N1個聯立方程，至少要獲得N1個重復。假設用戶量為N1*N2，分割私鑰重復的概率為N1次，那麼可以找到N1個重復，但是：

a) 在這些重復中，只有參與共謀的才有私鑰，可以列出方程，而沒有參與共謀的，即使找到了重復，也因為沒有私鑰，所以列不出方程，因而沒有意義。

Ⅶ 製作CPK需要多少數據

cpk 需要建立在製程能力穩定的情況下
搬遷 屬於改變製程加工條件 這個生產件按標准需要重新提供PPAP
所以前後的數據不可以合在一起計算CPK
搬遷前的你可以計算CPK
搬遷後的計算值以PPK 為准 PPK取樣最低50 40幾個勉強可以計算

Ⅷ 試量產計算Cpk需多少數據

一般是抽25組，每組4~5個數據。不過你還沒量產應該做PPK更合適一些。

Ⅸ CPK值為什麼會有0.67/1.0/1.33/1.67

CPK：Complex Process Capability index 的縮寫，是現代企業用於表示製程能力的指標。

現今下產品的質量要求越來越高，產品的質量也不是僅僅能保證在公差范圍內就能滿足要求，因此對產品的質量關注從原來的被動檢查產品尺寸轉換到對產品加工過程的控制，那麼如何來評價某個過程對產品加工質量的控制能力，利用統計學的原理按照一定的時間規律、抽樣方案對加工生產出的產品進行數據統計，通過計算其產品數據的離散度、標准差等數據來表達這個過程中產品的質量波動情況，CPK就在這種情況應運而生。

CPK用數值來表示，該值反映的是製造加工過程式控制制能力的大小，數值越大表示該過程的控制能力越好，產品的一致性越好，產品的尺寸變化波動越小越靠近中間值；而數值越大表示該過程的控制能力越差，產品的一致性越差，產品的尺寸變化波動越大離散度越大，甚至容易超出兩邊極限公差。

CPK的計算數據由至少125組數據組成，抽取的數據也有一定的要求（每5件為一組連續數據，每組之間按一定的時間間隔進行），抽取數據時製程必須是無任何異常狀態下進行，所以CPK值反應的是某個製程在正常工作狀態下的過程式控制制能力。

CPK來源於6西格瑪管理（6σ），CPK值為0.67、1.0、1.33、1.67分別反映的是西格瑪水平的2、3、4、5水平等級。在西格瑪水平中，1代表能力過小，2代表能力不足，3代表能力尚可，4代表能力充足，5、6代表能力過剩。所以CPK值定位0.67、1.0、1.33、1.67並不是隨意定的，是與6σ水平等級的2、3、4、5水平等級相對應的，同時與PPM（每百萬產品缺陷數）也有相對應的數據。

，以參數(a, b,G, n, p)定義。其中a, b是系數，a,b,x,y∈p，G為加法群的基點，n是以G為基點的群的階。令任意小於n的整數為私鑰，則r G=R為對應公鑰。

參考資料網路-CPK