ppk需要多少數據

『壹』 有誰會用Excel做PpK

計算方式：

CPK:

1. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)

2. 規格公差T=規格上限-規格下限

3. 規格中心值U=(規格上限+規格下限)/2

4. 依據公式:Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度:Ca值 (X為所有取樣數據的平均值)

5. 依據公式:Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度:Cp值

6. 依據公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數:Cpk值

PPK和CPK計算步驟區別並不大

1. 使用函數average計算平均值

2. 用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)

3. 取得數據MAX值和MIN值

4. PP=(MAX-MIN)/6σ

5. PPK=min(MAX-平均值/3σ,平均值-Min/3σ)
   

『貳』 CPK需要數據最少是多少

一般情況下至少需要25組或以上的數據。

在製作CPK之前應先確定過程是否穩定，常用控制制圖分析（最常用的是用Xbar-R圖），而Xbar-R圖一般是要100-125組數據，因而如果只有5組是不可行的。

就PPK而言過程穩定也是前提，在PPAP手冊中也是建議用125組進行初始過程性能指數的計算。另就CPK與PPK只是長期能力指數與短期能力指數，在計算時都要求過程穩定，只是在標准差的計算上有所不同。

CPK密鑰管理體制依據離散對數難題的數學原理構建公開密鑰與私有密鑰矩陣，採用雜湊函數與密碼變換將實體的標識映射為矩陣的行坐標與列坐標序列，用以對矩陣元素進行選取與組合，生成數量龐大的由公開密鑰與私有密鑰組成的公鑰、私鑰對，從而實現基於標識的超大規模的密鑰生產與分發。

(2)ppk需要多少數據擴展閱讀

基於ECC的CPK的主要思想如下：

(1)設定由整數矢量（rij）組成的m*h階私鑰種子矩陣SSK。適當選取階為素數門的橢圓曲線E，選擇其上的一個基點G，計算公鑰矢量(rijG)=（xij，yij），得出公鑰種子矩陣PSK。保留SSK，公布PSK；

(2)以用戶A的標識ID為參數，作h次映射（映射函數可以是加密演算法或Hash函數），得五個映射值MAPi(i=1，2，3，…，)，進行模n下的加法運算，得出私鑰SK=(RMAP11+RMAP22+……+RMAPhh)；

(3)根據映射值和公鑰種子矩陣，設用戶A的h次映射值分別為i，j，k，進行橢圓曲線E上點的加法運算，得出公鑰PKA。由此形成了用戶A的公、私鑰對PKA和SKA。因子矩陣大小為mh的CPK系統，可組合出的密鑰量卻為mh，因此，CPK只需很小的存儲空間就可形成一個相當大的密鑰空間。

『叄』 PPK在怎麼計算計算結果怎麼判斷其好壞，達成標準是多少

ppk是進入大批量生產前，對小批生產的能力評價，一般要求≥1.67
Ppk=（1-Ca）*PP
Ca 製程准確度
Ca=(X-U)/(T/2) X：平均值 U：規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2
pp 過程性能指數
Pp=T/6σ
該指數僅用來與Cp及Cpk對比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序
T：規格公差＝規格上限－規格下限
標准差σ 各數據偏離平均數的距離（離均差）的平均數
標准差=【∑X2-(∑X)2/n】/n-1的開方

『肆』 誰能舉例怎麼計算 CPK PPK嗎

cpk要求至少要25個，ppk好像沒有規定。
cpk的標准差，如是xbar-rchart,
則用rbar/d2來估計。
ppk的標准差，則直接用std
deviation的公式，在excel
中，用stdev（如若，您對我的答復滿意，請點擊左下角「好評」，謝謝您的採納。）

『伍』 ppk 和msa在試生產階段需要測多少件

PPK一般無特別要求需要25組數據，也有125組的。
MSA不是一個性質的。要看你做的是什麼內容。

『陸』 ppk測量數量

首先取100個數據計算這100個數據的平均值mean計算這100個數據的標准差S計算PPK，PPK的公式是：PPK=min【(USL-mean)/3S,(mean-LSL)/3S】其中USL是規格.

『柒』 32個數據可以計算ppk嗎

在實際的生產過程中,採集的數據符合正態分布的僅不到2.5%,所以在計算PPK或CPK時,在軟體里都會對數據鑒別是否符合正態分布,然後按照具體的分布進行計算.

『捌』 計算CPK最少需要多少數據

一般情況下至少需要25組或以上的數據。

在製作CPK之前應先確定過程是否穩定，常用控制制圖分析（最常用的是用Xbar-R圖），而Xbar-R圖一般是要100-125組數據，因而如果只有5組是不可行的。

就PPK而言過程穩定也是前提，在PPAP手冊中也是建議用125組進行初始過程性能指數的計算。另就CPK與PPK只是長期能力指數與短期能力指數，在計算時都要求過程穩定，只是在標准差的計算上有所不同。

CPK密鑰管理體制依據離散對數難題的數學原理構建公開密鑰與私有密鑰矩陣，採用雜湊函數與密碼變換將實體的標識映射為矩陣的行坐標與列坐標序列，用以對矩陣元素進行選取與組合，生成數量龐大的由公開密鑰與私有密鑰組成的公鑰、私鑰對，從而實現基於標識的超大規模的密鑰生產與分發。

(8)ppk需要多少數據擴展閱讀

基於ECC的CPK的主要思想如下：

(1)設定由整數矢量（rij）組成的m*h階私鑰種子矩陣SSK。適當選取階為素數門的橢圓曲線E，選擇其上的一個基點G，計算公鑰矢量(rijG)=（xij，yij），得出公鑰種子矩陣PSK。保留SSK，公布PSK；

(2)以用戶A的標識ID為參數，作h次映射（映射函數可以是加密演算法或Hash函數），得五個映射值MAPi(i=1，2，3，…，)，進行模n下的加法運算，得出私鑰SK=(RMAP11+RMAP22+……+RMAPhh)；

(3)根據映射值和公鑰種子矩陣，設用戶A的h次映射值分別為i，j，k，進行橢圓曲線E上點的加法運算，得出公鑰PKA。由此形成了用戶A的公、私鑰對PKA和SKA。因子矩陣大小為mh的CPK系統，可組合出的密鑰量卻為mh，因此，CPK只需很小的存儲空間就可形成一個相當大的密鑰空間。

『玖』 PPK CPK怎麼計算詳細的方法

PK：Complex Process Capability index 的縮寫，是現代企業用於表示製成能力的指標。

CPK值越大表示品質越佳。

CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））

Cpk——過程能力指數
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk應用講議
1. Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。
2. 同Cpk息息相關的兩個參數：Ca , Cp.
Ca: 製程准確度。 Cp: 製程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的關系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)
4. 當選擇製程站別用Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。
5. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。
6. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。
7. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；
8. 依據公式： ， 計算出製程准確度：Ca值
9. 依據公式：Cp = ， 計算出製程精密度：Cp值
10. 依據公式：Cpk=Cp ， 計算出製程能力指數：Cpk值
11. Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）
A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級
B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級
C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力
D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。

PPK是短期過程能力，即初始過程能力，一般是在初期時確認過程是否穩定，如果大於1.67即可轉入長期過程能力管理CPK，至於CMK的計算方法是與PPK一樣的，前提是將模具與設備作為一個整體，即必須使用合格的模具，以排除設備以外因素的影響..

SPC.net屬於一個統計製成管制系統，是基於B/S架構利用同Microsoft推出的新一代ASP.net腳本語言開發的全新的統計製成管制系統。它順應微軟.net戰略。即在任何地方，任何時候、利用任何工具都 可以獲得網路上的信息，並享受網路通信所帶來的便利性。
簡單地說，運用Spc.niet統計製程管制系統，可以不受時間、空間地或、條件的限制，不產生新的網路系統維護因擾，沒有新的程式安裝，實現公司各階層主管對製程中的品質狀況進行及時、有關效地了解和監控與指揮，為保證品質、提升品質方便工作的及時改進。

說得詳細些:

SPC知識介紹統計過程式控制制（Statistical Process Control），簡稱SPC，是一種藉助數理統計方法的過程式控制制工具。在企業的質量控制中，可應用SPC對質量數據進行統計、分析從而區分出生產過程中產品質量的正常波動與異常波動，以便對過程的異常及時提出預警，提醒管理人員採取措施消除異常，恢復過程的穩定性，從而提高產品的質量。

使用SPC技術，管理者可以清楚地知道：這個過程穩定嗎？它處於控制狀態嗎？這個過程的能力足夠嗎？根據問題的答案採取適當措施以糾正或維持過程現狀，從而使過程持續穩定地提供合格產品。SPC技術的出現之前，質量管理就是檢驗，抓質量就是把好檢驗關，這樣純粹的檢驗只能發現和剔除不合格品，而不合格品被發現時，其損失已經造成。即便是採取措施，也只能是「亡羊補牢」。越來越多的內部損失和售後投訴索賠讓企業不堪重負。SPC技術的出現，讓質量管理從這種被動的事後把關發展到過程中積極的事前預防為主，從而大大降低了企業的生產成本，同時也為企業贏得了更多的定單和更好的商譽。

近十年來，隨著信息技術的飛速發展，使得SPC所需要的對大量數據實時收集、計算和分析可以藉助於計算機和軟體來輕松的實現，從而在全球掀起了SPC應用的熱潮並持續至今。正是由於SPC在質量管理中的重要性，國際標准化組織（ISO）也將其作為ISO9000族質量體系認證的一個要素；美國三大汽車工業集團的QS9000認證也將SPC列為一項重要內容；同時，在企業中大力推行的全面質量管理（TQM）工作中，SPC也由於它特有的功能成為一項必不可少的組成部分。有鑒於此，世界許多大公司不僅自身採用SPC，而且要求供應商也必須採用SPC控制質量，SPC業已成為企業質量管理必不可少的工具。
參考資料：http://www.chinaspc.com.cn/index.asp

『拾』 Cpk和Ppk區別是什麼如何計算

以上幾點疑義：

1. PPK和CPK的樣本取樣：PPK取樣樣本≥100，且樣本容量和頻次不同，所涉及的計算選取的參數也不同，PPK的取樣，是長時間的，且可以跨批次取樣，一般適用於量產前期質量策劃階段第四階段實施並確定，PPK的計算，最終為依據經前幾個階段驗證的工裝設備、計量儀表等確定下的整個過程形成現場的質量控制界限，即SPC的控制范圍（其控制范圍不等同於控制對象的公差值），而SPC控制圖大家都應該知道，八大異常判定，且SPC是起到提前預防的作用的。很多實際運用中，會發現，量產前期形成的SPC控制界限，某些控制要素會比要求的公差值小，這正是因為前期工裝設備，以及檢驗精度、能力等處於優先水平，隨著量產時間的增加，這些因素會逐步降低（工裝模、檢、夾等狀態的變化），而此時我們在SPC控制圖中顯示的異常時，產品還是處於合格範圍之內，但是，顯示出了過程生產要素的變化，因此PPK是長期數據收集，而不是短期!

2. CPK樣本取樣：一般原則最低是≥25，從要求的取樣區別來看，很明顯就知道是單批次性的，專門針對在過程要素同一時期（即較小的系統誤差）對產品質量穩定性的評價，他的變化，體現的是量產過程中，每批次產品質量的穩定性，不同采樣時期的CPK進行比較分析，從波動趨勢來觀察，再結合不同批次生產時的過程要素的變化，來分析造成過程不穩定的因素。