ppk數據測多少個

⑴ 螺紋加工如何做ppk統計

螺紋加工做PPK統計的話，只需使用合格的螺紋中徑千分尺，測量螺紋的中徑值（因為螺紋的作用部分是中徑），以螺紋的中徑公差范圍作為上下限，最少記錄50個數據，就可以計算出PPK值。
註：需根據螺紋的螺紋的螺距選擇相對應的測頭。

⑵ 計算CPK最少需要多少數據

一般情況下至少需要25組或以上的數據。

在製作CPK之前應先確定過程是否穩定，常用控制制圖分析（最常用的是用Xbar-R圖），而Xbar-R圖一般是要100-125組數據，因而如果只有5組是不可行的。

就PPK而言過程穩定也是前提，在PPAP手冊中也是建議用125組進行初始過程性能指數的計算。另就CPK與PPK只是長期能力指數與短期能力指數，在計算時都要求過程穩定，只是在標准差的計算上有所不同。

CPK密鑰管理體制依據離散對數難題的數學原理構建公開密鑰與私有密鑰矩陣，採用雜湊函數與密碼變換將實體的標識映射為矩陣的行坐標與列坐標序列，用以對矩陣元素進行選取與組合，生成數量龐大的由公開密鑰與私有密鑰組成的公鑰、私鑰對，從而實現基於標識的超大規模的密鑰生產與分發。

(2)ppk數據測多少個擴展閱讀

基於ECC的CPK的主要思想如下：

(1)設定由整數矢量（rij）組成的m*h階私鑰種子矩陣SSK。適當選取階為素數門的橢圓曲線E，選擇其上的一個基點G，計算公鑰矢量(rijG)=（xij，yij），得出公鑰種子矩陣PSK。保留SSK，公布PSK；

(2)以用戶A的標識ID為參數，作h次映射（映射函數可以是加密演算法或Hash函數），得五個映射值MAPi(i=1，2，3，…，)，進行模n下的加法運算，得出私鑰SK=(RMAP11+RMAP22+……+RMAPhh)；

(3)根據映射值和公鑰種子矩陣，設用戶A的h次映射值分別為i，j，k，進行橢圓曲線E上點的加法運算，得出公鑰PKA。由此形成了用戶A的公、私鑰對PKA和SKA。因子矩陣大小為mh的CPK系統，可組合出的密鑰量卻為mh，因此，CPK只需很小的存儲空間就可形成一個相當大的密鑰空間。

⑶ ppk有范圍嗎

1、首先我們先說明Pp、Cp兩者的定義及公式

Cp（Capability Indies of Process）：穩定過程的能力指數，定義為容差寬度除以過程能力，不考慮過程有無偏移，一般表達式為：

Pp（Performance Indies of Process）：過程性能指數，定義為不考慮過程有無偏移時，容差范圍除以過程性能，一般表達式為：

（該指數僅用來與Cp及Cpk對比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序）

CPU：穩定過程的上限能力指數，定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限，一般表達式為：

CPL：穩定過程的下限能力指數，定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限，一般表達式為：

2、現在我們來闡述Cpk、Ppk的含義

Cpk：這是考慮到過程中心的能力（修正）指數，定義為CPU與CPL的最小值。它等於過程均值與最近的規范界限之間的差除以過程總分布寬度的一半。即：

Ppk：這是考慮到過程中心的性能（修正）指數，定義為： 或 的最小值。即：

其實，公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=| M-μ|

3、公式中標准差的不同含義

①在Cp、Cpk中，計算的是穩定過程的能力，穩定過程中過程變差僅由普通原因引起，公式中的標准差可以通過控制圖中的樣本平均極差估計得出。

因此，Cp、Cpk一般與控制圖一起使用，首先利用控制圖判斷過程是否受控，如果過程不受控，要採取措施改善過程，使過程處於受控狀態。確保過程受控後，再計算Cp、Cpk。

②由於普通和特殊兩種原因所造成的變差，可以用樣本標准差S來估計，過程性能指數的計算使用該標准差。

4、幾個指數的比較與說明

① 無偏離的Cp表示過程加工的均勻性（穩定性），即「質量能力」，Cp越大，這質量特性的分布越「苗條」，質量能力越強；而有偏離的Cpk表示過程中心μ與公差中心M的偏離情況，Cpk越大，二者的偏離越小，也即過程中心對公差中心越「瞄準」。使過程的「質量能力」與「管理能力」二者綜合的結果。Cp與Cpk的著重點不同，需要同時加以考慮。

② Pp和Ppk的關系參照上面。

③ 關於Cpk與Ppk的關系，這里引用QS9000中PPAP手冊中的一句話：「當可能得到歷史的數據或有足夠的初始數據來繪制控制圖時（至少100個個體樣本），可以在過程穩定時計算Cpk。對於輸出滿足規格要求且呈可預測圖形的長期不穩定過程，應該使用Ppk。」

④ 另外，我曾經看到一位網友的帖子，在這里也一起提供給大家（沒有徵得原作者本人同意，在這里向原作者表示歉意和感謝），上面是這樣寫的：

「所謂PPK，是進入大批量生產前，對小批生產的能力評價，一般要求≥1.67；而CPK，是進入大批量生產後，為保證批量生產下的產品的品質狀況不至於下降，且為保證與小批生產具有同樣的控制能力，所進行的生產能力的評價，一般要求≥1.33；一般來說，CPK需要藉助PPK的控制界限來作控制。… …

One is in QS9000. Ppk in QS9000 means Preliminary Process Capability Index. It should be calculated before Mass Proction and based on limited proct quantity. Normally, it should be more than 1.67 because it's a short term process capability which doesn't consider the long term variation. But, in QS9000 3rd edition, there's no Compulsory Requirement that the Ppk must be more than 1.67. In QS9000 3rd edition, it states like Ppk/Cpk >=1.33.

Another one is in 6-Sigma. Ppk in 6-Sigma means Process Performance Index. It's a long term process capability covered the long term process variation and based on more proct quantity. Generally, in 6-Sigma, the Ppk value is less than Cpk value.

Ppk：Overall performance capability of a process, see Cpk. 過程的整體表現能力。

Cp：A widely used capability index for process capability studies. It may range in value from zero to infinity with a larger value indicating a more capable process. Six Sigma represents Cp of 2.0. 在流程能力分析方面被廣泛應用的能力指數，在數值方面它可能是從零到顯示更強有力流程的無窮大之間的某個點。六個西格瑪代表的是Cp=2.0。

Cpk：A process capability index combining Cp and k (difference between the process mean and the specification mean) to determine whether the process will proce units within tolerance. Cpk is always less than or equal to Cp.一個將Cp和k（表示流程平均值與上下限區間平均值之間的差異）結合起來的流程能力指數，它用來確定流程是否將在容忍度范圍內生產產品，Cpk通常要麼比Cp值小，要麼與Cp值相同。」

在一般的QS9000或TS16949推行過程中，Ppk用來表示短期能力指數，Cpk用來表示長期能力指數。但是受知識所限，我本人沒有看到這方面的權威資料。這位網友的帖子上面也表達了兩種不同的觀點，而且這兩種觀點近乎對立。我本人認為，從Ppk的計算公式中使用的 分析，Ppk表達的應該是一個包含引起變差的普通原因和特殊原因的過程。這樣的過程其實就是一個非受控過程，而一個非受控過程在理論上應該是在過程初期和長期過程中都會遇到的。

5.Cm、Cmk與pp.ppk計算的公式一致,採用連續抽樣。

⑷ ppk怎麼算的

Cpk與Ppk其公式皆同,其差異在於Sigma計算方式不一樣.Ppk和Cpk的區別點：1.δ的計算不一樣,Ppk僅僅是用統計的方法計算,Cpk用經驗公式計算（偏差很小的） 2.樣本取樣方法不一樣：Ppk要短時間內連續生產的,Cpk一般是每天取一組數據（一般5個）.Ppk的計算公式和對應的cpk計算公式相同,所不同的就是分母部分的變差不同,在此時變差是用標准偏差的計算公式進行計算的,此時的變差包含了普通因素和特殊因素產生的兩種變差,也即在同一個過程下,此變差應該大於等於上面計算,cpk只考慮普通因素時的變差,當且僅當此過程只受普通因素變差影響時,兩者相等,此時ppk=cpk,所以說理論上cpk應該是恆大於ppk,但很多時候計算出的ppk會略微大於cpk,這時因為cpk的變差是估算得來的,所以會有一定的誤差,但並不影響對最終過程能力大小的評價.

⑸ ppk測量流程

1. 首先取100個數據

2. 計算這100個數據的平均值mean

3. 計算這100個數據的標准差S

4. 計算PPK，PPK的公式是：PPK=min【(USL-mean)/3S,(mean-LSL)/3S】

   其中USL是規格上線，LSL是規格下限

⑹ PPK值的簡介

PP（PerformanceIndex of Process）：定義為不考慮過程有無偏移時，容差范圍除以過程性能，一般表達 式為： Pp性能指數公式
ppk：是指考慮過程有特殊原因引起的偏差時，樣本數據的過程性能。 ppk是spc第二版中提到的新內容。（該指數僅用來與Cp及Cpk對比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序） CPU：穩定過程的上限能力指數，定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限： CPL：穩定過程的下限能力指數，定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限。其實，公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=| M-μ| 關於Cpk與Ppk的關系，這里引用TS16949中PPAP手冊中的一句話：「當可能得到歷史的數據或有足夠的初始數據來繪制控制圖時（至少100個個體樣本），可以在過程穩定時計算Cpk。對於輸出滿足規格要求且呈可預測圖形的長期不穩定過程，應該使用Ppk。」

⑺ 32個數據可以計算ppk嗎

在實際的生產過程中,採集的數據符合正態分布的僅不到2.5%,所以在計算PPK或CPK時,在軟體里都會對數據鑒別是否符合正態分布,然後按照具體的分布進行計算.

⑻ 關於CMK、CPK、PPK取樣理論來說CMK、CPK、PPK是需要連續取樣的，CMK取樣50、CPK與PPK都是25組，每組5隻

問題1：所謂的連續取樣是否表示測量時也需要連續？如我是連續取1-50產品的，那我測量時應該要按順序1-50的測量並記錄數據嗎？PPK肯定是連續抽樣，順序是否排，是否編號看你研究需要，我個人建議不排順序，但編號，一旦出現疑問時對樣件可以多次測量，減少測量的失誤；PPK研究的對象是相對來說一個較短的穩定過程，而CPK研究的是一個有變化的較長過程，如刀具更換過，加工參數調整過，所以是間隔抽樣；如新品開發時提交PPAP時一定是PPK；
問題2：現我的模具是一模兩穴的，即打一次模具出來兩個產品，如何取樣？例測量CMK時是取25模50隻產品，還是100隻產品做兩次CMK？CPK、PPK同問 該問題相當於加工中心多工位的過程能力，CMK、PPK的抽樣方式是各工位單獨統計分析，連續抽樣；若混合抽樣，你的數據就代表CPK水平，也相當於不同的夾具，不同的定位；
問題3：我們國產的設備能達到CMK≥1.67、CPK≥1.67、1.33≤PPK≤1.67的要求？這問題問歪了，設備CMK，提要求的是你，而沒有標准，你在買設備時協議上去要求供應商，（汽車行業的參考是，關鍵加工功能CM≥2，CMK≥1.67)，且選擇怎麼樣的公差非常關鍵，我們有個技術員今年叫我們驗收一台津上車床，產品外圓公差0.2，被我罵的半死，0.2的公差小台車都能達到CM≥2，還需要去驗證碼！所以設備的CMK更國產、進口沒關系，標准掌握在你手裡，合適的精度（研究對象產品的公差）去定義它才是關鍵；CPK、PPK，也一樣，是誰提出要求，誰就是標准；
問題4：如果我們的CMK不合格，但是我們的產品做出來還是有幾個符合要求的，是不是說明CMK通過工程人員的努力，更改其他條件還是有可能做到合格的？這里還是牽涉到標准問題，過程能力低於1.33，原則上安排全檢；

對追問的一些問題：
1、注塑機的驗收，設備能力方面，具體哪些為關鍵特性，是由你們提出要求設備供應商做到，如注塑自動上料的重量，設備設置每次自動送料100g，設備送料精度±0.5g，連續抽樣30件，統計分析一致性，這就是一種關鍵特性的設別和定義，其關鍵性比一般幾何尺寸還重要；
2、你是否對國產設備有偏見？國產台鑽+0.2公差，為什麼不能達到？影響他加工一致性的是單純設備嗎？普通麻花鑽VS成型鑽，φ1.2鑽刃長12VSφ12鑽刃長1.2，手拿產品定位VS夾具定位，加工一致性有的比嗎？你是未能定義設備的關鍵特性，被表象迷糊！！！

⑼ ppk測量數量

首先取100個數據計算這100個數據的平均值mean計算這100個數據的標准差S計算PPK，PPK的公式是：PPK=min【(USL-mean)/3S,(mean-LSL)/3S】其中USL是規格.

⑽ ppk 和msa在試生產階段需要測多少件

PPK一般無特別要求需要25組數據，也有125組的。
MSA不是一個性質的。要看你做的是什麼內容。