A. xps圖具體分析方法
XPS(X射線光電子能譜分析)分析方法包括:
1、元素的定性分析,可以根據能譜圖中出現的特徵譜線的位置鑒定除H、He以外的所有元素。
2、元素的定量分析,根據能譜圖中光電子譜線強度(光電子峰的面積)反應原子的含量或相對濃度。
3、固體表面分析,包括表面的化學組成或元素組成,原子價態,表面能態分布,測定表面電子的電子雲分布和能級結構等。
XPS的原理是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。以光電子的動能/束縛能為橫坐標,相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關信息。
X射線光電子能譜分析的依據:
XPS主要依據X射線的穿透作用、差別吸收、感光作用和熒光作用。由於X射線穿過人體時,受到不同程度的吸收,如骨骼吸收的X射線量比肌肉吸收的量要多,那麼通過人體後的X射線量就不一樣。
這樣便攜帶了人體各部密度分布的信息,在熒光屏上或攝影膠片上引起的熒光作用或感光作用的強弱就有較大差別,因而在熒光屏上或攝影膠片上(經過顯影、定影)將顯示出不同密度的陰影。
根據陰影濃淡的對比,結合臨床表現、化驗結果和病理診斷,即可判斷人體某一部分是否正常。於是,X射線診斷技術便成了世界上最早應用的非刨傷性的內臟檢查技術。
B. xps擬合後數據保存不了
xps擬合後數據保存方法:
1.將經過荷電校正的數據轉換為「.txt」格式文件,注意在「.txt」文檔中,第一行要直接以數據開始,最後一行也要以數據結束,不能有空行或其它文字,否則將無法導入XPSpeak 。
2.在XPS peak軟體中導入「.txt」文件,在XPS peak界面選擇 Data/Import(ASCII); 選擇「XPSpeak-O1s.txt」文件,即得到如下所示O1s的譜圖。
3.建立基準線。在Region窗口中,點擊「Background」, 默認「High BE和Low BE」的數據不變,在「Background type」中選取Shirley,再通過輸入「Shirley+Lineai」...
4.加峰點擊Add peak選擇合適的Peak Type(如s、p、d、f,峰類型的選擇,不影響分峰),S.O.S選0。 在Position處輸入希望的峰位,需固定時則點fix前小方框,同法還可設置半峰寬(FWHM)。
C. 怎麼使用avantage 處理xps數據
如果你僅僅要含量,測試結果裡面就給了,如果追尋准確含量,本身就不可能的,在xps裡面,你如果想追求一個相對準的含量的話,可以用avantage軟體,縮小選擇的元素范圍,包括元素出峰位置(不是測出來的數據的那個所有結合能范圍哦),每個需要的元素都這樣,這樣的含量結果更合理准確一點。您也可以試試搭載了第六代智能英特爾酷睿處理器的產品,創新性的使用模式,如實感技術,姿勢控制,語音識別,2D/3D影像,突破傳統PC使用體驗,無論公學習、暢玩游戲或者觀看超高清影像播放,均得心應手,引領產品創新。