xpspeak可以識別什麼數據

Ⅰ xps圖具體分析方法

XPS（X射線光電子能譜分析）分析方法包括：

1、元素的定性分析，可以根據能譜圖中出現的特徵譜線的位置鑒定除H、He以外的所有元素。

2、元素的定量分析，根據能譜圖中光電子譜線強度（光電子峰的面積）反應原子的含量或相對濃度。

3、固體表面分析，包括表面的化學組成或元素組成，原子價態，表面能態分布，測定表面電子的電子雲分布和能級結構等。

XPS的原理是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。以光電子的動能/束縛能為橫坐標，相對強度（脈沖/s）為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關信息。

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X射線光電子能譜分析的依據：

XPS主要依據X射線的穿透作用、差別吸收、感光作用和熒光作用。由於X射線穿過人體時，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射線量比肌肉吸收的量要多，那麼通過人體後的X射線量就不一樣。

這樣便攜帶了人體各部密度分布的信息，在熒光屏上或攝影膠片上引起的熒光作用或感光作用的強弱就有較大差別，因而在熒光屏上或攝影膠片上(經過顯影、定影)將顯示出不同密度的陰影。

根據陰影濃淡的對比，結合臨床表現、化驗結果和病理診斷，即可判斷人體某一部分是否正常。於是，X射線診斷技術便成了世界上最早應用的非刨傷性的內臟檢查技術。